Datasheet MIK51SC72D (K5016ВГ1) (Микрон) - 7

制造商Микрон
描述Однокристальный микроконтроллер с поддержкой криптографических алгоритмов, контактного и бесконтактного интерфейсов
页数 / 页8 / 7 — MIK51SC72D. (K5016ВГ1). Инв.№. 598А. ОДНОКРИСТАЛЬНЫЙ. МИКРОНТРОЛЛЕР. С. …
文件格式/大小PDF / 688 Kb
文件语言俄语

MIK51SC72D. (K5016ВГ1). Инв.№. 598А. ОДНОКРИСТАЛЬНЫЙ. МИКРОНТРОЛЛЕР. С. ПОДДЕРЖКОЙ. ШИФРОВАНИЯ. Ноябрь. 2011. –. корректировка. август. 2013. ПРАВИЛА

MIK51SC72D (K5016ВГ1) Инв.№ 598А ОДНОКРИСТАЛЬНЫЙ МИКРОНТРОЛЛЕР С ПОДДЕРЖКОЙ ШИФРОВАНИЯ Ноябрь 2011 – корректировка август 2013 ПРАВИЛА

该数据表的模型线

文件文字版本

MIK51SC72D (K5016ВГ1) Инв.№ 598А ОДНОКРИСТАЛЬНЫЙ МИКРОНТРОЛЛЕР С ПОДДЕРЖКОЙ ШИФРОВАНИЯ Ноябрь 2011 – корректировка август 2013 ПРАВИЛА ПРИЁМКИ Таблица 1: состав испытаний, испытания по группам, последовательность проведения, методы проведения квалификационных и периодических испытаний для контактных и дуальных чип-модулей. № Наименование теста Ссылка Условия проведения Длительность Частота 1. Механические свойства модулей 1.1 Физические размеры MIL-STD 883 В соответствии с утв. 1 раз в 1,5 года Meth.2016 чертежом 1.2 Внешний визуальный MIL-STD 883 10х увеличение 1 раз в 1,5 года контроль Meth.2009 1.3 Внутренний контроль Cond. B, 75-150x 1 раз в 1,5 года увеличение 1.3.1 Внутренний визуальный MIL-STD 883 контроль Meth.2010 1.3.2 Рентгеновское исследование MIL-STD 883 (присоединение выводов, Meth.2012 (part 6) распределение клея) 1.4 Испытания присоединения 1 раз в 1,5 года выводов 1.4.1 Тест на отрыв проволоки MIL-STD 883 > 3 cN Meth.2011 1.4.2 Тест на сдвиг шарика Внутренняя > 35 cN процедура 1.4.3 Измерение высоты петли Внутренняя В зависимости от процедура изделия 1.5 Испытания монтажа 1 раз в 1,5 года кристаллов 1.5.1 Толщина кристалла с клеем Внутренняя В зависимости от процедура изделия 1.6 Соответствие размеров и EMV 2000, ISO/IEC 1 раз в 1,5 года расположения контактов 7816-2 (лента)1 2. Термическая и климатическая устойчивость модулей 2.1 Термоциклирование MIL-STD 883 40ºС - +85ºС 10 раз 1 раз в 1,5 года Meth.1010 2.2 Кривая температура / JESD22-А101 85 ºС, 85% hr 168 часов 1 раз в 1,5 года влажность 3.Химические и электрические свойства модулей 3.1 Химическая устойчивость 1 раз в 1,5 года поверхности обратной стороны 3.1.1 Химическая устойчивость ISO/IEC 103-73-1 Визуальный контроль и 1 мин. (соотв. контактов (part 5.4) электрический тест ISO-Std) 3.1.2 Тест в соляной атмосфере MIL-STD 883 5% NaCl, 35 ºС, 24 ч Meth.1009 Визуальный контроль и (визуальные электрический тест критерии) ISO/IEC 103-73-1 (part 5.4) 3.2 Электрическое ISO 7816-1; < 500 мОм 1 раз в 1,5 года сопротивление контактов ISO/IEC 103-73-3 (part 5.3) 3.3 Устойчивость к УФ ISO 7816-1 Электрический тест 1 раз в 1,5 года излучению 1 Гарантируется поставщиком ленто-носителя, если он CQM-сертифицирован или согласен выполнять требования CQM, указанные в контрактах на поставку www.mikron.ru © ОАО «НИИМЭ и Микрон» 7